氙灯暴晒老化箱:
半导体工艺技术的创新在近几年盲目的推进。
此外,由于最近要求缩短产品开发时间,作为产品开发产品可靠性处于相同的情况,必须在短时间内知道可靠性特征。
基于这种情况下加速的寿命试验是通过最小样品尺寸和最短的测试时间来知道可靠性的方法。JIS标准定义“加速试验”是“为了缩短测试时间执行比标准条件更严酷的条件下进行的测试”。在严酷的条件下进行测试可用少点样品在短时间内预测市场失效率,因而减少要求的时间和费用证实可靠性。
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